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介電常數(shù)是衡量物質(zhì)電性的重要參數(shù)之一,對(duì)于液體而言,其介電常數(shù)的測(cè)定則有助于深入了解其電性質(zhì)和化學(xué)特性。本文將著重介紹一種新穎的液體介電常數(shù)測(cè)定儀,并探討其原理、應(yīng)用及優(yōu)缺點(diǎn)。一、儀器原理液體介電常數(shù)測(cè)定儀主要基于時(shí)域反射法原理,通過(guò)在被測(cè)液體中引入電場(chǎng)脈沖并測(cè)量反射波形的時(shí)間和幅度,計(jì)算出液體介電常數(shù)。具體步驟如下:1.儀器將一定頻率的高壓電場(chǎng)脈沖信號(hào)引入被測(cè)液體,在液體中產(chǎn)生電磁波。2.液體中的電荷會(huì)分布在液體中,并隨著時(shí)間的推移變化。3.當(dāng)電場(chǎng)脈沖信號(hào)傳播到液體表面時(shí),...
分離和檢測(cè)不同同位素的儀器。儀器的主要裝置放在真空中。將物質(zhì)氣化、電離成離子束,經(jīng)電壓加速和聚焦,然后通過(guò)磁場(chǎng)電場(chǎng)區(qū),不同質(zhì)量的離子受到磁場(chǎng)電場(chǎng)的偏轉(zhuǎn)不同,聚焦在不同的位置,從而獲得不同同位素的質(zhì)量譜。質(zhì)譜方法早于1913年由J.J.湯姆孫確定,以后經(jīng)F.W.阿斯頓等人改進(jìn)完善?,F(xiàn)代質(zhì)譜儀經(jīng)過(guò)不斷改進(jìn),仍然利用電磁學(xué)原理,使離子束按荷質(zhì)比分離。質(zhì)譜儀的性能指標(biāo)是它的分辨率,如果質(zhì)譜儀恰能分辨質(zhì)量m和m+Δm,分辨率定義為m/Δm?,F(xiàn)代質(zhì)譜儀的分辨率達(dá)105~106量級(jí),可測(cè)量...
Zeta電位儀,廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè),也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。產(chǎn)品應(yīng)用:1.半導(dǎo)體研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。2.醫(yī)藥和食品行業(yè)乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質(zhì)功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。3.陶瓷和顏料工業(yè)表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)...
zeta電位儀是一臺(tái)高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀,采用動(dòng)態(tài)光散射法,結(jié)合“NIBS”光學(xué)器件,可增強(qiáng)對(duì)聚集體的檢測(cè),還可測(cè)量小尺寸或稀釋樣品,以及極低濃度或高濃度樣品。ZSE還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子的zeta電位儀,以及靜態(tài)光散射法表征分子量。與使用90度散射光學(xué)器件的系統(tǒng)相比,該系統(tǒng)采用非侵入式背散射光學(xué)器件(NIBS),使性能得到顯著提升??捎糜跍y(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反...
孔隙率是粉體中總空隙所占有的比率,是影響多孔介質(zhì)內(nèi)流體傳輸性能的重要參數(shù)??偪障栋ǚ垠w內(nèi)孔隙和粉體間空隙。粉體的充填體積(V)為粉體的真體積(Vt)、粉體內(nèi)孔隙體積(V內(nèi))、粉體間空隙體積(V間)之和。孔隙率與多孔介質(zhì)固體顆粒的形狀、結(jié)構(gòu)和排列有關(guān)。在常見的非生物多孔介質(zhì)中,鞍形填料和玻璃纖維達(dá)到83%~93%;煤、混凝土、石灰石和白云石等可低至2%~4%,地下砂巖大多為12%~34%,土壤為43%~54%,磚為12%~34%,皮革為56%~59%,均屬中等數(shù)值;動(dòng)物的腎、...
顆粒的物理性質(zhì)測(cè)試對(duì)于很多行業(yè)都具有重要意義,顆粒的粒徑分布與球形度、長(zhǎng)徑比等外形分布數(shù)據(jù)都是經(jīng)常需要用到的物理參數(shù)。圖像粒度儀工業(yè)級(jí)雙向遠(yuǎn)心鏡頭以及強(qiáng)大的分析軟件,可快速對(duì)待測(cè)顆粒進(jìn)行粒形分析,廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、研發(fā)部門以及實(shí)驗(yàn)室,可替換篩分分析。圖像粒度儀系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。它是將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本工作流程是通過(guò)數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝下來(lái)并傳輸?shù)诫娔X中,通過(guò)專門的...
超聲粒度儀是基于超聲法原理的儀器,主要應(yīng)用于在原濃分散體系中表征粒徑分布,利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí),聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來(lái)測(cè)量顆粒粒度及濃度。無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。應(yīng)用領(lǐng)域:主要應(yīng)用于原濃分散體系中表征粒徑分布、Zeta電位、流變學(xué)參數(shù)、固體含量、CMP漿料,乳液、陶瓷漿料、電池漿料、水泥、藥物乳劑等。特點(diǎn):1、測(cè)量準(zhǔn)確性高。礦漿中超聲衰減的改變是固體顆粒共同作用的成果,可以對(duì)超聲衰減選用直接測(cè)量方法,而非查表...
粒形分析儀采用積木式的設(shè)計(jì),在需要的時(shí)候用戶可以隨時(shí)配備其它更先進(jìn)的部件,使它的性能就立刻提升。比如可以配備用于形態(tài)分析的視頻攝像系統(tǒng)、配備濕法分散系統(tǒng)、干法分散系統(tǒng)和粒度分析專家軟件等。粒形分析儀結(jié)合了粒度儀和顆粒形貌分析儀的核心作用之外,可選擇進(jìn)行干、濕法測(cè)定,甚至能夠區(qū)分混合物比例等等。具有成像清晰、分析速度快、操作簡(jiǎn)單、結(jié)果準(zhǔn)確可靠等特點(diǎn)。是人造金剛石、碳化硅磨料、等領(lǐng)域的技術(shù)研究、應(yīng)用研究和質(zhì)量控制提供里一種高精度的分析手段。分析項(xiàng)目包括粒度和粒形兩大類,粒度分析項(xiàng)...
圖像粒度儀一般是由激光器、富氏透鏡、光電接收器陣列、信號(hào)轉(zhuǎn)換與傳輸系統(tǒng)、樣品分散系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系等組成。根據(jù)激光散射原理,顆粒大小不同,散射光能量隨射角度的分布也不同,此種分布稱為散射譜。激光粒度就是通過(guò)檢測(cè)顆粒群的散射譜反演顆粒大小及其分布的。激光器發(fā)出的激光束,經(jīng)濾波、擴(kuò)束、準(zhǔn)直后變質(zhì)束平行光,在該平行光束沒有照射到顆粒的情況下,光束經(jīng)過(guò)富氏透鏡后將其匯聚到焦點(diǎn)上。當(dāng)通過(guò)某種特定的方式把顆粒均勻地放置到平行光束路徑中時(shí),激光束經(jīng)過(guò)顆粒時(shí)將發(fā)生衍射或散射現(xiàn)象,一部分光將與光...
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