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圖像粒度儀使用過程中遮光度對測試結(jié)果的影響

更新時間:2019-04-26      點擊次數(shù):3495
   圖像粒度儀的基本原理是:光學(xué)顯微鏡首先將待測的微小顆粒放大,并成像在CCD攝像機的光敏面上;攝像機將光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖片信息,然后傳輸并存儲在計算機系統(tǒng)里。計算機對接收到的數(shù)字化了的顯微圖像信息進行二值化處理,識別顆粒的輪廓。然后按照一定的等效模式,計算各個顆粒的粒徑、圓度等物理參數(shù)。一般而言,一幅圖像(即圖像儀的一個視場)包含幾個到上百個不等的顆粒。圖像粒度儀能自動計算視場內(nèi)所有的顆粒的粒徑,并統(tǒng)計,形成粒度報告、圓度報告等。當(dāng)已經(jīng)測到的顆粒數(shù)不夠多時,可以通過調(diào)整顯微鏡的載物臺,換到下一個視場,繼續(xù)測試并累計。
 
  圖像粒度儀主要的核心技術(shù)之一是顆粒圖像的二值化處理。數(shù)字?jǐn)z像機拍攝的顆粒圖像是由不同灰度的像素點陣構(gòu)成的。為獲得真實的顆粒輪廓圖像,需要對圖像進行二值化處理。將原始圖像轉(zhuǎn)化為顆粒輪廓邊緣閉合且不改變大小的黑白圖像。圖像粒度儀的二值化處理就是將圖像上的點的灰度置為0或255,也就是將整個圖像呈現(xiàn)出明顯的黑白效果。即將256個亮度等級的灰度圖像通過適當(dāng)?shù)拈撝颠x取而獲得仍然可以反映圖像整體和局部特征的二值化圖像。在數(shù)字圖像處理中,二值圖像占有非常重要的地位,特別是在實用的圖像處理中,以二值圖像處理實現(xiàn)而構(gòu)成的系統(tǒng)是很多的,要進行二值圖像的處理與分析,首先要把灰度圖像二值化,得到二值化圖像,這樣子有利于在對圖像做進一步處理時,圖像的集合性質(zhì)只與像素值為0或255的點的位置有關(guān),不再涉及像素的多級值,使處理變得簡單,而且數(shù)據(jù)的處理和壓縮量小。為了得到理想的二值圖像,一般采用封閉、連通的邊界定義不交疊的區(qū)域。所有灰度大于或等于閾值的像素被判定為屬于特定物體,其灰度值為255表示,否則這些像素點被排除在物體區(qū)域以外,灰度值為0,表示背景或者例外的物體區(qū)域。如果某特定物體在內(nèi)部有均勻一致的灰度值,并且其處在一個具有其他等級灰度值的均勻背景下,使用閾值法就可以得到比較的分割效果。如果物體同背景的差別表現(xiàn)不在灰度值上(比如紋理不同),可以將這個差別特征轉(zhuǎn)換為灰度的差別,然后利用閾值選取技術(shù)來分割該圖像。動態(tài)調(diào)節(jié)閾值實現(xiàn)圖像的二值化可動態(tài)觀察其分割圖像的具體結(jié)果。
 
  圖像粒度儀的測量原理要求在測試過程中,樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則,理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個要求非常難以掌握,因此在實際的粒度測試中,通過調(diào)整遮光比的數(shù)值來盡量顆粒之間不發(fā)生二次散射。遮光比不宜過大(超過50%)或者過小(低于5%),遮光比過大時,顆粒的濃度過高,容易發(fā)生二次散射,測量結(jié)果誤差增大;遮光比過低,樣品中顆粒的濃度太低,顆粒數(shù)太少,測試結(jié)果的代表性很差,甚至可能導(dǎo)致測試結(jié)果是無效的,因此在測試過程中,對遮光比的選取要通過反復(fù)試驗,以得到正確的測量結(jié)果。
 
  一般來說,對于比較粗的樣品,遮光比可以選擇的比較高,如20~30%,正常情況可以為10~25%;對于超細的樣品,可以適當(dāng)降低樣品的遮光比,但一般不要超過40%,這些都是實驗得到的經(jīng)驗數(shù)值,但還需通過反復(fù)實驗,找到對應(yīng)樣品測試時遮光比的數(shù)值。

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